高速高性能數據采集系統介紹和應用

  

  報告題目:高速高性能數據采集系統介紹和應用

  報告人: Dr. Peter Grudberg, 美國XIA工廠

  時間:2019年6月14日(星期五)10:00-12:00

  地點:近代物理所5號樓911會議室

  交流會摘要:

  本次交流會將介紹美國XIA工廠的高速高性能數據采集系統的產品和應用。XIA的數據采集卡可以將來自HPGe、閃爍體、硅探測器、中子探測器等幾乎任何探測器的輸入信號快速數字化,具有全數字觸發濾波、能量濾波、堆積檢測等功能。內置FPGA和DSP固件,用于脈沖高度重建、脈沖波形分析和MCA直方圖生成。這些模塊可以組合成龐大的數據采集系統,采集分布式定時和觸發信號,進行時間符合和能譜測量。XIA的許多產品都可以定制特殊的固件,以支持最終用戶的應用需求。

  主要介紹的產品有:

  臺式數字化儀:獨立的網絡連接的多路數字化儀,基于嵌入式,FPGA/ARM/ LINUX系統,允許用戶定制。

  插件式數據采集卡:PXI/PXIe總線,方便建立中大型數據獲取系統。

  嵌入式數據采集卡:體積小、功耗低、性能高,嵌入各種檢測設備。

  X射線譜儀:適用于單探頭或多條SDD、HPGe等X射線探測器,應用于世界上多個同步輻射加速器中。

  屆時會有實物的現場演示。

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